особенность

QE-RXАнализатор потерь эффективности фотоэлектрических элементов Характерными особенностями являются:

Высокая точность и низкая неопределенность

Калибровка QE - RX отслеживается NIST, что делает данные испытаний QE - RX менее неопределенными, чем любая другая тестовая система EQE. В то же время QE - RX был разработан компанией Enlitech, которая имеет 10 - летнюю калибровочную лабораторию, сертифицированную ISO / IEC 17025. Это делает результаты испытаний QE - RX на солнечных батареях Si очень точными. Опираясь на QE - RX, он даст вам надежные результаты.

:: Компактная, но разнообразная структура

QE - RX интегрирует все оптические и механические компоненты в основной корпус 80cm x 80cm x 60 cm, в том числе усилитель фазы сбора электрических сигналов. Не ограничиваясь своими компактными размерами, QE - RX по - прежнему предоставляет широкий спектр тестовых данных, включая EQE солнечных батарей, спектральные реакции, альбедо и IQE. Компактный и многофункциональный является преимуществом QE - RX.

* Анализ потерь мощности

В сочетании с программным обеспечением SQ - JVLA QE - RX обеспечивает наиболее полную аналитическую функциональность, включая Jsc - loss, Voc - loss, FF - loss и вычисления с зазором. Эти параметры являются ключевыми факторами в контроле производства и рекомендациях по эффективности, что делает QE - RX партнером в фотоэлектрической промышленности.

Для PESC, PERC, PERL, HJT, заднего контакта, двухсторонних и TOP - Con кремниевых солнечных элементов

Предоставляет данные по QE (квантовая эффективность), PV - EQE (внешняя квантовая эффективность), IPCE (эффективность преобразования падающих фотонов - электронов), SR (спектральная реакция), IQE (внутренняя квантовая эффективность) и альбедо.

· Компактная структура и высокая повторяемость более 99,5%.

· Диапазон длин волн: 300 ~ 1200 нм

.Jsc Анализ потерь и отчетность (с использованием программного обеспечения SQ - JVFLA).

Анализ и отчетность о профессиональных потерях (с использованием программного обеспечения SQ - JVFLA).

.FF Анализ потерь и отчетность (с использованием программного обеспечения SQ - JVFLA).

Отчет об оценке неопределенности EQE и контроль качества, сертифицированный ISO / IEC 17025, могут быть использованы для представления статей в журналах.

Разнообразная и индивидуализированная установка для испытания образцов.

Системное проектирование

спецификация

Сфера применения

QE-RXАнализатор потерь эффективности фотоэлектрических элементовМожет использоваться для:

* Эффективность фотоэлектрических солнечных элементов PERC / HJT / TOP - Con - анализ потерь

* Измерение спектральных реакций IEC - 60904 - 8

* Расчет коэффициента рассогласования МЭК - 60904 - 7

* Корректировка IEC - 60904 - 1 MMF

:: Контроль качества обработки кремниевых солнечных батарей

:: Определение полосы пропускания кремниевых солнечных элементов