Серия OPTMМикроскопический спектрометр толщины

• Измерения отражательной способности в крошечных районах с помощью микроспектроскопии * позволяют проводить высокоточный анализ толщины пленки / оптических констант.

• Толщина покрытия может измеряться неразрушающими и бесконтактными способами, такими как различные мембраны, чипы, оптические материалы и многослойные мембраны. С точки зрения времени измерения, высокоскоростные измерения могут достигать 1 секунды / точки и оснащены программным обеспечением для анализа оптических констант даже для первых пользователей.

Голова оснащена функцией, необходимой для измерения толщины пленки.

• Измерение высокой точности * пары отражательных коэффициентов с помощью микроспектроскопии (толщина многослойной мембраны, оптическая постоянная)

• Высокоскоростные измерения в 1 секунду

• Оптические системы широкого спектра (от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного) в микроспектральном диапазоне

• Механизмы безопасности региональных датчиков

• Легко анализировать мастера, и новички могут проводить анализ оптических констант

• Независимые измерительные головки соответствуют различным требованиям к клиенту в сети inline

• Поддержка различных настроек

Измерения:

•* ДаИзмерение альбедо

• Многоуровневый мембранный анализ

• Анализ оптических констант (n: коэффициент преломления, k: коэффициент экстинкции)

Серия OPTMМикроскопический спектрометр толщины